偏振相关损耗测试仪 PL2000
在光纤通信系统中，器件的 PDL（偏振相关损耗）能够导致信号变形和劣化。因此，对于器件生产商来说，准确有效的 PDL 测试是非常重要的。PL2000 采用偏振扫描技术（TIA/EIA-455-157）进行 PDL 测量，这使其拥有全球最快的测量速度，同时确保极高的测量精度。此外，PL2000 还集成了功率、插入损耗测量，是 WDM 器件和偏振相关器件 PDL、IL 测量必不可少的设备。
主要特点
● 偏振扫描技术（全态法）
● 全光纤结构
● 同时精确测量PDL、IL
● 光功率测量功能
● 快速测量、无需校准
● GPIB、RS232通信接口
参数指标
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参数 |
指标 |
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PDL测量波长范围 |
1310~1620nm |
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PDL测量分辨率 |
0.1，0.01，0.001dB |
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PDL测量精度 |
≤±（0.010 + 5% of PDL）dB（最大值） ≤±（0.010 + 2% of PDL）dB（典型值） |
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PDL测量速度 |
0.1s（典型值） |
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PDL测量范围 |
0~5dB |
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IL测量波长范围 |
1310nm，1520~1620nm |
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IL测量分辨率 |
0.1，0.01，0.001dB |
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IL测量精度 |
≤±（0.1 + 2% of IL）dB |
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IL测量速度 |
0.1s（典型值） |
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IL测量范围 |
50dB |
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功率测量精度 |
±0.2 dB @ -10dBm |
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功率测量范围 |
-57 ~+3dBm |
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工作温度 |
10~40℃ |
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存储温度 |
0~60℃ |
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尺寸 |
225×88×420mm |
