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杭州光络科技有限公司    偏振测试仪表    光矢量分析仪 OVA 5000
光矢量分析仪OVA5000

光矢量分析仪 OVA 5000

光矢量分析仪(OVA 5000)是目前业内速度最快、测量最准确、性价比最高的一款损耗、色散、偏振测量设备。只需要简单地将待测器件连接到设备上,通过一次激光扫描,即可完成诸多器件(如耦合器、特种光纤、FBG、AWG、滤波器、放大器等)的IL、RL、PDL、   CD、PMD、GD全参数测量。

光矢量分析仪(OVA 5000)是目前业内速度最快、测量最准确、性价比最高的一款损耗、色散、偏振测量设备。只需要简单地将待测器件连接到设备上,通过一次激光扫描,即可完成诸多器件(如耦合器、特种光纤、FBGAWG、滤波器、放大器等)的ILRLPDL   CDPMDGD全参数测量。

      该产品凭借其全参数、快速、高精度测量的绝对优势,击败了所有竞争对手,连续4年(2002~2005)获得 FROST&SULLIVAN 大奖。该产品机多用,大大降低了测试成本,是无源器件、光模块产品研制和生产的首选测量仪器。

 

主要特点

●  单次扫描,即可完成ILRLPDLCDPMDGD的全参数测量

●  3s即可完成器件在C+L波段的特性测量

●  器件长度最长达150m

●  测量分辨率高

●  波段范围:CC+LO波段

●  测量速度快,能够实时监测并调整元器件

●  体积小,综合性价比高

参数指标

参数

快速模式

平均模式

  波长范围

1265~1335nm 或 1525~1610nm

  波长分辨率

1.6pm

1.6pm

  波长精度

±1.5pm

±1.5pm

  波长重复性

±0.1pm

±0.1pm

  光相位误差

±0.05rad

±0.0075rad

  损耗测量动态范围

60dB

80dB

  损耗测量文波

±0.05dB

±0.01dB

  损耗测量分辨率

±0.05dB

±0.002dB

  插损测量精度

±0.1dB

±0.05dB

  回损测量精度

±0.2dB

±0.1dB

  色散测量精度

±10ps/nm

±5ps/nm

  群时延测量范围

6ns

6ns

  群时延测量精度

±0.2ps

±0.1ps

  群时延损耗范围

45dB

60dB

  PMD测量范围

6ns

6ns

  1阶PMD测量精度

±0.03ps(100pm步长)

±0.15ps(30pm步长)

±0.08ps

  2阶PMD测量精度

±10ps2

±2ps2

  PMD损耗范围

40dB

50dB

  PDL测量范围

40dB

50dB

  PDL测量精度

±0.05dB

±0.03dB

  激光器扫描速度

70nm/s

  全参数测量速度

30ms/nm

  实时测量刷新速率

1Hz

NA

  最大器件测试长度(透射测量)

150m

  最大器件测试长度(反射测量)

75m

  重量

16.24kg

  尺寸

473 ×420×206mm